Analisis Kemampuan Berpikir Kritis Matematis Siswa Kelas IIIB SDN Tlogosari Kulon 01 Semarang Berdasarkan Gaya Belajar

Authors

  • Nelli Puspitasari Universitas PGRI Semarang, Indonesia
  • Agnita Siska Pramasdyahsari Universitas PGRI Semarang, Indonesia
  • Rina Dwi Setyawati Universitas PGRI Semarang, Indonesia
  • Ariani Nur Setiawati SDN Tlogosari Kulon 01 Semarang, Indonesia

DOI:

https://doi.org/10.54371/jiip.v6i7.2399

Abstract

Penelitian ini bertujuan untuk mendeskripsikan kemampuan berpikir matematis peserta didik berdasarkan gaya belajar. metode dalam penelitian ini yaitu deskriptif kualitatif. Subjek dalam penelitian ini adalah peserta didik kelas III B SDN Tlogosari kulon 01 Semarang dengan masing-masing 2 subjek dengan gaya belajar visual, auditorial dan kinestetik. Teknik pengumpulan data dalam penelitian ini yaitu dengan angket gaya belajar, tes untuk menilai kemampuan berpikir matematis serta wawancara. Analisis data yang digunakan reduksi data, penyajian data dan penarikan kesimpulan. Teknik triangulasi sumber dilakukan untuk menguji keabsahan data Hasil penelitian kemampuan berpikir matematis peserta didik dengan gaya bergaya belajar visual sangat baik, karena mampu memenuhi indikator interprestasi, analisis, penilaian dan inferensi. Sedangkan kemampuan berpikir matematis peserta didik dengan gaya belajar auditorial cukup baik karena mampu memenuhi indikator interprestasi, analisis, penilaian dan inferensi, tetapi untuk tahap inferensi dalam menjelaskan masih kurang lengkap. Peserta didik dengan gaya belajar kinestetik sudah baik dalam kemampuan berpikir matematis karena sudah memenuhi beberapa indikator dengan mampu mengidentifikasi permasalahan, berbicara dengan perlahan, dan selalu berorientasi pada fisik.

Published

2023-07-02

How to Cite

Puspitasari, N., Pramasdyahsari, A. S., Setyawati, R. D., & Setiawati, A. N. (2023). Analisis Kemampuan Berpikir Kritis Matematis Siswa Kelas IIIB SDN Tlogosari Kulon 01 Semarang Berdasarkan Gaya Belajar. JIIP - Jurnal Ilmiah Ilmu Pendidikan, 6(7), 5006-5010. https://doi.org/10.54371/jiip.v6i7.2399